Image from Freepik
Zaoberáme sa meraním odolnosti voči korózii, realizujeme korózne skúšky, náchylnosť na atmosférickú, jamkovú alebo medzi kryštálovú koróziu a schopnosť pasivácie v rôznych pracovných prostrediach.
Kontaktný formulár
Pri štruktúrnych analýzach materiálov sa využíva viacero špičkových mikroskopov a prístrojov: Rastrovací vysokorozlišovací elektrónový mikroskop JEOL 7600F s analyzátormi EDX, WDX a EBSD, Laserový konfokálny mikroskop ZEISS LSM 700, Transmisný elektrónový mikroskop Philips CM 300 LaB6 s digitálnou kamerou GATAN SC 200 Orius, Multifunkčný RTG difraktometer PanAnalytical EMPYREAN pre fázové analýzy v teplotnom intervale do 1100 °C, Elektrónový rastrovací mikroskop s fokusovaným iónovým zväzkom (FIB) vybavený systémom energeticky disperznej RTG spektroskopie (EDX), XPS/UPS/AES/ARPES/ISS/UHV FTIR spektroskopický systém, AFM mikroskop s integrovaným Raman spektrometrom a TERS spektrometriou, TEM, Transmisný elektrónový mikroskop s atomárnym rozlíšením JEM ARM 200cF s rozlišovacou schopnosťou 0,78 Å, Augerova mikrosonda JEOL JAMP 9510-F, SEM, Thermo Scientific Scios 2 DualBeam.
Kontaktný formulár
Väčšina termických analýz analýz, fázových rovnovnách a difúznych procesov sa stanovuje meraniami na štyroch základných zariadeniach: Simultánny Termický Analyzátor Netzsch STA 409CD, dilatometer NETZSCH DIL 402 C, diferenčný skenovací kalorimeter Perkin Elmer Diamond DSC.
Kontaktný formulár
Na viacerých pracoviskách disponujeme prístrojovou analytikou na špičkovej úrovni, pri analýzach vieme zloženie stanoviť v rôznych materiáloch a vzorkách použitím metód Rutherford Backscattering Spectrometry (RBS), Particle Induced X-ray spectrometry (PIXE), Elastic Recoil Detection Analysis (ERDA), Nuclear Reaction Analysis (NRA), Iskrová optická emisná spektroskopia (Bruker OES Tasman Q4), Optická emisná spektroskopia s tlejivou plazmou (Spectruma GDOES GDA 750), Rastrovacia elektrónová mikroskopia (JEOL 7600F) a pridružené analyzátory EDX a WDX, TOC analyzátor Shimadzu pre organické látky v kvapalých vzorkách a pod.Sample text. Click to select the Text Element.
Kontaktný formulár
Meranie geometrie povrchu nástrojov pomocou laserovej konfokálnej mikroskopie – 3D sken povrchu, (©MTF STU)
Detailný výskum povrchu po koróznom teste vrátane topografie (©MTF STU)
Pozorovanie geometrie ručne vyrobeného zlatého šperku z 15. stor. pomocou laserovej konfokálnej mikroskopie (©MTF STU)
Výskum kvality práškových povlakov vrátane koróznych testov, (©MTF STU)
Kontrola kvality povrchov rôznych materiálov, (©MTF STU)
Kontrola poškodených súčiastok (©MTF STU)