Zaoberáme sa analýzou kovov, plastov, gumy, kompozitov, alebo organických materiálov, dreva a pod. Disponujeme špičkovými laboratóriami, lokalizovanými na viacerých pracoviskách: Ústave materiálov, Ústave výskumu progresívnych technológií a Centre pre nanodiagnostiku materiálov. Čiastkové analýzy vody, pôdy alebo dreva realizuje pracovisko Ústav integrovanej bezpečnosti.
Zaoberáme sa meraním odolnosti voči korózii, realizujeme
korózne skúšky, náchylnosť na atmosférickú, jamkovú
alebo medzi kryštálovú koróziu a schopnosť pasivácie v
rôznych pracovných prostrediach.
Zrýchlené korózne skúšky
vo vlhkom a slanom prostredí s neutrálnym pH tzv. neutral salt spray
test.
Hmlová, kondenzačná
komora CO-FO-ME-GRA CorrosionBox 400E testy v súlade s ISO 11503, ISO
1456, ISO 3768, ISO 3769, ISO 3770, ISO 4541, ISO 6270, ISO 7253, ISO 9227,
ASTM B117, ASTM B287, ASTM B368 a DIN 40046, DIN 50021, DIN 50907, DIN 50958 a
inými
Skúšky korózneho
praskania
Skúšky korózneho
praskania pod napätím v koróznom prostredí tekutín v intervale teplôt od
izbovej po 300 °C za súčasného pôsobenia všestranného tlaku do maximálne 20
MPa. Zariadenie na korózne skúšky pod napätím CORTEST.
Potenciostatické
skúšky
Potenciostatické
skúšky na zariadení potenciostat/galvanostat PGU 10 V-1A-IMP-S), STN EN ISO 17475.
Starnutie materiálov
Hodnotenie
starnutia materiálov pôsobením zvýšenej teploty, vlhkosti, UV žiarenia alebo ozónu (ATR-FTIR Varian 660 MidIR) .
Pri štruktúrnych analýzach materiálov sa využíva viacero špičkových mikroskopov a prístrojov: Rastrovací
vysokorozlišovací elektrónový mikroskop JEOL 7600F s analyzátormi EDX, WDX a
EBSD, Laserový konfokálny mikroskop ZEISS LSM 700, Transmisný
elektrónový mikroskop Philips CM 300 LaB6 s digitálnou kamerou GATAN SC 200
Orius, Multifunkčný RTG difraktometer PanAnalytical EMPYREAN pre fázové analýzy
v teplotnom intervale do 1100 °C,
Elektrónový rastrovací
mikroskop s fokusovaným iónovým zväzkom (FIB) vybavený systémom energeticky
disperznej RTG spektroskopie (EDX), XPS/UPS/AES/ARPES/ISS/UHV FTIR
spektroskopický systém, AFM mikroskop s integrovaným Raman spektrometrom a TERS
spektrometriou,
TEM,
Transmisný elektrónový mikroskop s atomárnym rozlíšením JEM ARM 200cF s
rozlišovacou schopnosťou 0,78 Å,
Augerova
mikrosonda JEOL JAMP 9510-F,
SEM,
Thermo Scientific Scios 2 DualBeam.
Kryštalografické charakteristiky
Kryštalografické charakteristiky stanovované v mikroobjemoch analyzovaných materiálov. Napr. stanovenie kryštalickej
štruktúry, vyhodnotenie zloženia a hustoty kryštalografických defektov,
stanovenie textúrnych vlastností povrchov a polykryštalických štruktúr
(identifikácia fáz a rozhraní, určenie veľkosti a hraníc zŕn a ich
orientácie).
Analýza povrchových vrstiev
Analýza povrchových vrstiev kovových a nekovových
materiálov (degradácia, fraktografia, materiálové výbrusy). Ďalej napr. charakterizácia
povrchov a rozhraní použitím Augerovej elektrónovej spektroskopie AES,
stanovenie prvkového zloženia a kontaminácie povrchov, merania hĺbkových
profilov vrstiev do hrúbok niekoľkých mikrometrov.
Analýza degradovaných povrchov
Analýza degradovaných povrchov v dôsledku abrazívneho,
adhézneho, kavitačného, únavového a korózneho opotrebenia, ako aj na stanovenie
drsnosti po aplikácii technologických operácií.
Štrukturálna a morfologická analýza
Charakterizácia vodivých aj
nevodivých materiálov využitím transmisnej a rastrovacej elektrónovej
mikroskopie.
3D morfológia nanorozmerných
objektov
Merania realizované pomocou
transmisnej elektrónovej tomografie s rozlíšením 1 nm.
Mikroskopia magnetických
a polovodičových vzoriek
Kvalitatívna
analýza magnetických a elektrostatických polí v mikro/nano vzorkách
využitím techniky elektrónovej holografie s rozlíšením do 1 nm.
Zvyškový austenit
Stanovenie podielu zvyškového austenitu.
Zvyškové napätie
Stanovenie zvyškových napätí v hĺbkovom profile tepelne spracovaných dielcov.
Koherentný rozptyl
Stanovenie veľkosti oblasti koherentného rozptylu.
Analýza textúry
Analýza textúry v deformovaných a liatych systémoch.
Väčšina termických analýz analýz, fázových rovnovnách a difúznych procesov sa stanovuje meraniami na štyroch základných zariadeniach: Simultánny Termický Analyzátor Netzsch STA 409CD, dilatometer NETZSCH DIL 402 C, diferenčný skenovací kalorimeter Perkin Elmer Diamond DSC.
Diferenčná
termická analýza, diferenčná skenovacia kalorimetria / Termogravimetria
(DTA,DSC/TG), pre určenie teplôt a entalpií fázových premien a priebeh
niektorých degradačných procesov ako je napr. oxidácia alebo tepelný rozklad,
podľa noriem ASTM E794-06, ASTM E1641-07.
Prístroj:
NETZSCH STA 409, teplotný rozsah 20 °C až 1600 °C, inertná atmosféra alebo
vzduch.
Teplotná rozťažnosť
Teplotná
rozťažnosť, pre určenie koeficientu teplotnej rozťažnosti a teplôt fázových
premien, podľa normy ASTM E228 - 11.
Prístroj:
dilatometer NETZSCH DIL 402 C, teplotný rozsah 20 °C až 1600 °C, inertná
atmosféra.
Diferenčná
skenovacia kalorimetria (DSC)
Diferenčná
skenovacia kalorimetria (DSC), pre určenie teplôt a entalpií fázových premien,
teploty skelného prechodu a tepelnej kapacity, podľa noriem ASTM E793-06, ASTM
E1269-11, ASTM E1356-08, ISO 11357-2, ISO 11357-3.
Prístroj:
diferenčný skenovací kalorimeter Perkin Elmer Diamond DSC, teplotný rozsah -70
°C až 600 °C, inertná atmosféra.
Fázové rovnováhy, počítačová simulácia
Počítačová
simulácia pre analýzu fázových rovnováh a difúznych procesov a fázových premien
v materiáloch. Softvéry: Thermo-Calc, Dictra, MATLAB + dostupné databázy
(ocele, spájky).
Mechanické vlastnosti kovových a nekovových materiálov
Mechanické vlastnosti kovových a nekovových materiálov stanovované podľa
platných noriem (STN EN ISO 7500-1, DIN 51220, DIN 51221, STN EN 6892, DIN
51223, DIN 51227, ASTM E-4, VDE 0113, ISO 5893) a ďalších. Maximálna zaťažovacia sila je 250 kN. Súčasťou prístroja je aj
teplotná komora do 1000 °C. Zariadenie: Skúšobný stroj LABORTECH LabTest 5.250
Sp1
Skúšky tvrdosti podľa Vickersa
Skúšky tvrdosti podľa Vickersa (HV 0,01 až HV 10) v
súlade s normou STN EN ISO 6507, Zariadenie ZWICK 3212
Skúšky tvrdosti podľa Rockwella
Skúšky tvrdosti podľa
Rockwella v súlade s normou STN EN ISO 6508, Zariadenie: Škoda RB1
Skúšky tvrdosti podľa Brinella
Skúšky tvrdosti podľa Brinella HBW 750/5 a HBW s guľôčkou
priemeru 2,5 mm pre rôzne materiály) v súlade s normou STN EN ISO 6506.
Skúška rázovej húževnatosti podľa Charpyho
Skúška rázovej húževnatosti podľa Charpyho, s rázovou
energiou do 300 J v závislosť od sily a priehybu skúšobného telesa podľa STN EN
ISO 14556 a rovnako aj v súlade s normou STN EN ISO 148-1 (Inštrumentované
rázové kyvadlové kladivo doplnené vysokorýchlostnou snímacou kamerou
zaznamenáva priebeh deformácie na vonkajšej strane skúšobnej vzorky). Na
meranie je možné použiť inštrumentovaný a neinštrumentovaný hrot. Vzorky možno
testovať v intervale od - 70 až do + 270 (+500) °C. Zariadenie:
Inštrumentované rázové kyvadlové kladivo CHK-300
Skúšky tvrdosti podľa Vickersa (HV 0,01 až HV 10) v súlade s
normou STN EN ISO 6507, Zariadenie ZWICK 3212
Skúšky v tlaku, ohybe, dvojitom strihu
Skúšky v tlaku, ohybe, dvojitom strihu je možné realizovať pri zaťažení do 400
kN.
Reologické vlastnosti
Meranie reologických vlastnosti, stanovovanie tokových
vlastností termoplastov, meranie vulkanizačných kriviek kaučukov v rôznych
teplotných a frekvenčných meracích režimoch (Rotačný reometer Reometer Bohlin
Gemini II a reometer MonTech D-MDR 3000).
Na viacerých pracoviskách disponujeme prístrojovou analytikou na špičkovej úrovni, pri analýzach vieme zloženie stanoviť v rôznych materiáloch a vzorkách použitím metód Rutherford Backscattering Spectrometry (RBS), Particle Induced X-ray
spectrometry (PIXE), Elastic Recoil Detection Analysis (ERDA), Nuclear Reaction
Analysis (NRA), Iskrová optická
emisná spektroskopia (Bruker OES Tasman Q4), Optická emisná spektroskopia s tlejivou plazmou (Spectruma GDOES
GDA 750), Rastrovacia elektrónová mikroskopia (JEOL 7600F) a pridružené analyzátory EDX a WDX, TOC analyzátor Shimadzu pre organické látky v kvapalých vzorkách a pod.
Vysokocitlivá analýza obsahu prvkov od vodíka po
urán
Vysoko-citlivá analýza obsahu prvkov (od vodíka po
urán) až s možnosťou rozlíšenia jednotlivých izotopov použitím metód
(Rutherford Backscattering Spectrometry (RBS), Particle Induced X-ray
spectrometry (PIXE), Elastic Recoil Detection Analysis (ERDA), Nuclear Reaction
Analysis (NRA)). Analýza materiálov pomocou iónového zväzku umožňuje vysoko
citlivú analýzu prítomnosti prvkov so schopnosťou rozlišovať aj jednotlivé
izotopy a tiež kvantitatívne analyzovať nízke koncentrácie obsahu vodíka,
prípadne deutéria a ďalších ľahkých prvkov s vysokou citlivosťou
Lokalna chemicka a prvkova analyza
Stanovenie vybraných prvkov lokálne pomocou EDS a EELS spojene s TEM mikroskopiou.
Základné zloženie vôd
Stanovenie vybraných fyzikálno-chemických ukazovateľov vôd (podzemné, povrchové, pitné vody voda pre technologické účely atď.), stanovenia sa realizujú väčšinou štandardnými metódami spektrofotometricky alebo odmernou analýzou napr. obsah rôznych foriem dusíka, fosforečnany, obsah
vápnika a horčíka a pod.) alebo pôd.
Prvková analýza v kovoch a zliatinách
IIskrová optická
emisná spektroskopia (Bruker OES Tasman Q4) na kontrolu zloženia
nízkolegovaných aj ušľachtilých ocelí ako aj zliatin na báze
hliníka.
Optická emisná spektroskopia s tlejivou plazmou (Spectruma GDOES
GDA 750) na meranie zloženia rôznych kovových zliatin, dokonca aj niektorých
nekovových zlúčenín, vrátane možnosti hĺbkovej analýzy pomocou postupného
odprašovania vzorky do hĺbky niekoľko desiatok μm.
Pri vysokom zväčšení rádovo niekoľko 100x až 1000x
pomocou rastrovacej elektrónovej mikroskopie (JEOL 7600F) a pridružených
analyzátorov EDX a WDX. Dá sa napr. určiť približné chemické zloženie
jednotlivých častíc v rôznych materiáloch. Optimálne sú merania na elektricky
vodivých vzorkách, ale s určitými obmedzeniami sa dajú študovať aj el. nevodivé
vzorky.
TOC
Stanovenie TOC/TIC/TC (celkový organický uhlík, celkový anorganický uhlík a celkový uhlík) vo vzorkách vôd.
